2015年 理工学部 シラバス - 精密機械工学科
設置情報
科目名 | 半導体工学 | ||
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設置学科 | 精密機械工学科 | 学年 | 2年 |
担当者 | 西岡 泰城 | 履修期 | 前期 |
単位 | 2 | 曜日時限 | 金曜2 |
校舎 | 船橋 | 時間割CD | G52G |
クラス |
概要
学修到達目標 | 大規模集積回路(LSI)を代表とする半導体デバイスは様々な精密機械技術と融合し今日の技術革新において重要な役割を担ってきた。そのため精密機械工学を学ぶ学生にとっても半導体工学の基本を身に付けていることが要求されつつある。本講義においてはその電子デバイスの基礎を理解するために、半導体物質が持つ基本的性質について学ぶ。 |
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授業形態及び 授業方法 |
教科書を利用し基礎的な半導体デバイスの概念を学ぶと共に、演習によりその知識を定着させる。 |
履修条件 | なし。 |
授業計画
第1回 | 身の回りの半導体デバイス |
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第2回 | 半導体 |
第3回 | キャリヤの運動 |
第4回 | キャリヤ濃度 |
第5回 | 真性半導体 |
第6回 | 不純物半導体 |
第7回 | 不純物半導体 |
第8回 | 多数キャリヤと少数キャリヤ |
第9回 | pn接合 |
第10回 | pn接合ダイオード |
第11回 | バイポーラトランジスタ |
第12回 | バイポーラトランジスタ |
第13回 | 電界効果トランジスタ |
第14回 | 電界効果トランジスタ |
第15回 | 集積化デバイス技術 |
その他
教科書 |
小林敏志、金子双男、加藤景三 『基礎半導体工学』 オーム社 2008年 第13版
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参考書 | |
成績評価の方法 及び基準 |
出席、平常の演習レポート課題、定期試験を総合して評価する。 |
質問への対応 | 適宜。 |
研究室又は 連絡先 |
船橋校舎6号館623号室 nishioka@eme.cst.nihon-u.ac.jp |
オフィスアワー |
金曜 船橋 15:30 ~ 17:30
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学生への メッセージ |
講義を欠席するとその後の講義内容が理解できなくなるので90パーセント以上出席し試験をパスした学生のみに単位を認定する。 |