電子計測システム (J21F)

学修到達目標	計測は、「長さ」や「重さ」を測るという身近なものから「脳の内部を外から調べる」などのように高度なものまで、多岐にわたる技術である。また、計測システムは、ただ、測るという行為だけではなく、各種の信号処理技術を駆使して物の識別・認識を計測対象とするものも多い。例えば、味覚や感情などが該当する。本講義では、計測の基礎となるセンサ技術、計測技術などについて、先駆者たちの知恵やアイディア・工夫等を勉強し、計測に関する基礎知識、さらには、柔軟な発想力を養うことを目標とする。
授業形態及び授業方法	板書を中心とした講義形式で授業を進める。また、理解を助けるための手段として、プロジェクタを使用する。
履修条件	電気計測、回路理論Ⅰ・Ⅱ、電子回路Ⅰ等の履修が望まれる。

第1回	電子計測システムの講義概要
第2回	エレクトロニクスの基礎　計量標準とトレーサビリティとは
第3回	エレクトロニクスの基礎　国際標準化ってどのようなもの
第4回	エレクトロニクスの基礎　不確かさの定義
第5回	センサ・トランスデューサ（物理量の電気変換）センサの原理、センサの構成、特徴、応用の紹介と学習
第6回	センサ・トランスデューサ（化学量の電気変換）センサの原理、センサの構成、特徴、応用の紹介と学習
第7回	A/D変換とD/A変換1（A/D変換の基礎と積分方式の理解）
第8回	A/D変換とD/A変換2（比較方式の理解）
第9回	A/D変換とD/A変換3（D/A変換器の原理と特徴の理解）
第10回	エレクトロニクス計測器1（測定器の動向紹介）
第11回	エレクトロニクス計測器2（デジタルマルチメータの測定原理と特徴）
第12回	エレクトロニクス計測器3（オシロスコープ、スペクトラムアナライザの測定原理と特徴）
第13回	エレクトロニクス計測器4（周波数カウンタと周波数安定度）
第14回	計測における信号処理　（時間波形とスペクトル解析、フーリエ級数の導出）
第15回	平常試験と解説

教科書	須山正敏、関根好文「エレクトロニクス計測」コロナ社　2005年　第7版
参考書	電話、メール等で対応
成績評価の方法及び基準	平常試験とレポート宿題等で評価を行う。平常試験（80％）、レポート宿題等（25％）
質問への対応	適宜、研究室、電話、メール等にて対応
研究室又は連絡先	4号館414室　内線5452 aotani@ecs.cst.nihon-u.ac.jp 047-469-5452
オフィスアワー	木曜船橋 10:40 ～ 11:30
学生へのメッセージ

2016年 理工学部 シラバス - 電子工学科