2017年 理工学部 シラバス - 電子工学科
設置情報
科目名 | 集積回路工学 | ||
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設置学科 | 電子工学科 | 学年 | 4年 |
担当者 | 高橋 芳浩 | 履修期 | 前期 |
単位 | 2 | 曜日時限 | 金曜2 |
校舎 | 船橋 | 時間割CD | J52G |
クラス | |||
ポリシー | ディプロマ・ポリシー【DP】 カリキュラム・ポリシー【CP】 | ||
履修系統図 | 履修系統図の確認 |
概要
学修到達目標 | 半導体集積回路は,あらゆる産業に欠くことのできない電子部品である.本講義を通して,現在主流のMOS型集積回路の構造および動作原理,また現状の問題点などについて理解することができる. |
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授業形態及び 授業方法 |
板書による講義形式で実施する.また必要に応じて演習を行い理解を深める. |
履修条件 | 半導体デバイス工学,半導体物性工学,電子回路の内容を理解している必要がある. |
授業計画
第1回 | ガイダンス,LSIの歴史 |
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第2回 | 半導体の基礎(キャリア密度,移動度,抵抗率,pn接合) |
第3回 | MOS構造(1) しきい値電圧 |
第4回 | MOS構造(2) 容量特性 |
第5回 | MOS型電界効果トランジスタ(1) 基本特性 |
第6回 | MOS型電界効果トランジスタ(2) サブスレッショルド特性,基板電圧 |
第7回 | MOS型電界効果トランジスタ(3) しきい値電圧制御,ショートチャネル効果 |
第8回 | CMOSインバータ(1) 直流特性 |
第9回 | CMOSインバータ(2) スイッチング特性 |
第10回 | MOS ICの構成要素 抵抗,容量,インダクタンス |
第11回 | MOS ICの作製技術 メタルゲートプロセス,シリコンゲートプロセス |
第12回 | CMOSロジック回路 |
第13回 | CMOSメモリ DRAM, SRAM, 不揮発性メモリ |
第14回 | 先端CMOS技術 |
第15回 | 平常試験およびその解説 |
その他
教科書 |
田丸啓吉・野澤博 著 『集積回路工学』 series電気・電子・情報系3 共立出版 1999年 第1版
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参考書 |
松波弘之,吉本昌広 著 『半導体デバイス』 series電気・電子・情報系7 共立出版 2000年 第1版
永田謙,柳井久義 共著 『新版 集積回路工学 (1), (2) 』 大学講義シリーズ コロナ社 2005年 第1版
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成績評価の方法 及び基準 |
平常試験(80%)および演習・宿題などの平常点(20%)により評価. |
質問への対応 | 適宜,研究室にて対応. |
研究室又は 連絡先 |
船橋校舎425号室(高橋研究室)/takahashi.yoshihiro@nihon-u.ac.jp |
オフィスアワー |
火曜 船橋 12:00 ~ 13:00
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学生への メッセージ |