2019年 理工学部 シラバス - 応用情報工学科
設置情報
| 科目名 | 集積回路工学 | ||
|---|---|---|---|
| 設置学科 | 応用情報工学科 | 学年 | 3年 |
| 担当者 | 佐伯 勝敏 | 履修期 | 後期 |
| 単位 | 2 | 曜日時限 | 月曜2 |
| 校舎 | 船橋 | 時間割CD | K12D |
| クラス | |||
| ポリシー | ディプロマ・ポリシー【DP】 カリキュラム・ポリシー【CP】 | ||
| 履修系統図 | 履修系統図の確認 | ||
概要
| 学修到達目標 | さまざまな技術の集大成であるコンピュータの中等で使われている集積回路を、ブラックボックスとして理解するのではなく、“ものづくり”の原点に立ち戻り、製造過程の視点から学ぶことができる。 |
|---|---|
| 授業形態及び 授業方法 |
プロジェクタを用いて講義を進める。また，理解を助けるための手段として小テスト・演習・課題等を実施する。小テストは，終了後すぐに解説を行い，演習・課題等は翌週に解説を行う。 |
| 履修条件 | 情報デバイス，組込回路I,IIを修得していること，あるいは履修中であることが望ましい。 |
授業計画
| 第1回 | 授業内容の概略説明 集積回路工学とは。半導体産業について。 【事前学習】シラバスの内容を確認の上，授業に臨むこと(120分) 【事後学習】身近に使われている集積回路について考えると共に，今後の半導体産業について，その方向性について各自考える(120分) |
|---|---|
| 第2回 | プロセス技術1 集積回路の製造プロセス、リソグラフィ技術、ドライエッチング技術、酸化技術、拡散技術 【事前学習】教科書の該当箇所をよく読んで，理解できない箇所を質問できるようにまとめておく(120分) 【事後学習】小テストを再度解き直し，教科書の該当箇所を確認しておく(120分) |
| 第3回 | プロセス技術2 成膜技術、TCAD技術 【事前学習】教科書の該当箇所をよく読んで，理解できない箇所を質問できるようにまとめておく(120分) 【事後学習】小テストを再度解き直し，教科書の該当箇所を確認しておく(120分) |
| 第4回 | メモリデバイスの設計技術 【事前学習】教科書の該当箇所をよく読んで，理解できない箇所を質問できるようにまとめておく(120分) 【事後学習】小テストを再度解き直し，教科書の該当箇所を確認しておく(120分) |
| 第5回 | ロジックデバイスの設計技術 【事前学習】教科書の該当箇所をよく読んで，理解できない箇所を質問できるようにまとめておく(120分) 【事後学習】小テストを再度解き直し，教科書の該当箇所を確認しておく(120分) |
| 第6回 | MOS技術 【事前学習】教科書の該当箇所をよく読んで，理解できない箇所を質問できるようにまとめておく(120分) 【事後学習】小テストを再度解き直し，教科書の該当箇所を確認しておく(120分) |
| 第7回 | MOSトランジスタ 【事前学習】教科書の該当箇所をよく読んで，理解できない箇所を質問できるようにまとめておく(120分) 【事後学習】小テストを再度解き直し，教科書の該当箇所を確認しておく(120分) |
| 第8回 | ｐｎ接合 【事前学習】教科書の該当箇所をよく読んで，理解できない箇所を質問できるようにまとめておく(120分) 【事後学習】小テストを再度解き直し，教科書の該当箇所を確認しておく(120分) |
| 第9回 | 中間試験 【事前学習】第1回から8回までの内容を総合的に復習し，これまでの小テストや演習問題は解けるようにしておく(120分) 【事後学習】試験内容の該当箇所を，教科書で確認し，内容を理解する(120分) |
| 第10回 | プロセスモジュール技術 【事前学習】教科書の該当箇所をよく読んで，理解できない箇所を質問できるようにまとめておく(120分) 【事後学習】小テストを再度解き直し，教科書の該当箇所を確認しておく。返却された中間試験問題を自分で解き直す(120分) |
| 第11回 | パッケージング技術 【事前学習】教科書の該当箇所をよく読んで，理解できない箇所を質問できるようにまとめておく(120分) 【事後学習】小テストを再度解き直し，教科書の該当箇所を確認しておく(120分) |
| 第12回 | テスト技術 【事前学習】教科書の該当箇所をよく読んで，理解できない箇所を質問できるようにまとめておく(120分) 【事後学習】小テストを再度解き直し，教科書の該当箇所を確認しておく(120分) |
| 第13回 | 信頼性技術 【事前学習】教科書の該当箇所をよく読んで，理解できない箇所を質問できるようにまとめておく(120分) 【事後学習】小テストを再度解き直し，教科書の該当箇所を確認しておく(120分) |
| 第14回 | 半導体の応用回路 【事前学習】最新の半導体を使用した応用回路について事前に調査しておく(120分) 【事後学習】小テストを再度解き直し，興味ある応用回路については自身で深く調べてみる(120分) |
| 第15回 | 理解度確認および解説 【事前学習】第10回から14回までの内容を総合的に復習し，これまでの小テストや演習問題は解けるようにしておく(120分) 【事後学習】試験内容の該当箇所を，教科書で確認し，内容を理解する(120分) |
その他
| 教科書 |
島亨、有門経敏 『集積回路工学概論』 大阪大学出版会
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| 参考書 |
柳井久義，永田 穣 『新版「集積回路工学 (1)(2) 」（大学講義シリーズ）』 コロナ社
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| 成績評価の方法 及び基準 |
レポート(20%)，小テスト(20%)，演習(10%)，中間試験(25%)，期末試験(25%)により総合評価する。 |
| 質問への対応 | 基本的に随時対応します。 |
| 研究室又は 連絡先 |
船橋校舎4号館432号室，saeki.katsutoshi@nihon-u.ac.jp |
| オフィスアワー |
月曜 船橋 12:15 ～ 13:15
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| 学生への メッセージ |
ソフトウェアを使う上で，ハードウェアの知識は必要になりますので，途中であきらめず，最後まで受講して下さい． |