2023年 理工学部 シラバス - 物質応用化学科
設置情報
| 科目名 | 機器分析 | ||
|---|---|---|---|
| 設置学科 | 物質応用化学科 | 学年 | 3年 |
| 担当者 | 森田 孝節 | 履修期 | 前期 |
| 単位 | 2 | 曜日時限 | 金曜2 |
| 校舎 | 駿河台 | 時間割CD | L52P |
| クラス | A 、 B | ||
| 履修系統図 | 履修系統図の確認 | ||
概要
| 学修到達目標 | 物理的手段を用いる分析法として物質と電磁波の相互作用を利用した分光分析，あるいは物 質の電気化学的性質(主に金属を中心として）を利用した電気分析，物質と異相間の相互作用を利用した分離分析などについて簡潔に説明することができる。 本授業科目はDP1・3・5及びCP1・3・5に該当しています。 |
|---|---|
| 授業形態及び 授業方法 |
対面授業で行います。 |
| 履修条件 | 分析化学Ⅰ及び分析化学Ⅱを履修していることが望ましい。 |
授業計画
| 第1回 | 機器分析概論について2時間以上，予習すること 機器分析概論 機器分析概論について2時間以上，復習すること |
|---|---|
| 第2回 | 化学的分析法，物理的分析法および生物的分析法について2時間以上，予習すること 機器分析とは：化学的分析法，物理的分析法および生物的分析法 化学的分析法，物理的分析法および生物的分析法について2時間以上，復習すること |
| 第3回 | 電磁波の種類，光と化学物質の相互作用について2時間以上，予習すること 電磁波分析１：電磁波の種類，光と化学物質の相互作用 電磁波の種類，光と化学物質の相互作用について2時間以上，復習すること |
| 第4回 | 紫外・可視分光法について2時間以上，予習すること 電磁波分析２：紫外・可視分光法 紫外・可視分光法について2時間以上，復習すること |
| 第5回 | 原子分光分析法について2時間以上，予習すること 電磁波分析３：原子分光分析法 原子分光分析法について2時間以上，復習すること |
| 第6回 | その他の分光法について2時間以上，予習すること 電磁波分析４：その他の分光法 その他の分光法について2時間以上，復習すること |
| 第7回 | 電気分析の基礎について2時間以上，予習すること 電気分析１：電気分析の基礎 電気分析の基礎について2時間以上，復習すること |
| 第8回 | 電位差分析法，電解・電量分析法について2時間以上，予習すること 電気分析２：電位差分析法，電解・電量分析法 電位差分析法，電解・電量分析法について2時間以上，復習すること |
| 第9回 | 電気泳動法，イオンセンサーについて2時間以上，予習すること 電気分析３：電気泳動法，イオンセンサー 電気泳動法，イオンセンサーについて2時間以上，復習すること |
| 第10回 | 分離分析の基礎について2時間以上，予習すること 分離分析１：分離分析の基礎 分離分析の基礎について2時間以上，復習すること |
| 第11回 | ガスクロマトグラフィー，分離の原理と理論，検出法について2時間以上，予習すること 分離分析２：ガスクロマトグラフィー，分離の原理と理論，検出法 ガスクロマトグラフィー，分離の原理と理論，検出法について2時間以上，復習すること |
| 第12回 | 液体クロマトグラフィー，分離モード，検出法について2時間以上，予習すること 分離分析３：液体クロマトグラフィー，分離モード，検出法 液体クロマトグラフィー，分離モード，検出法について2時間以上，復習すること |
| 第13回 | 質量分析法，フローインジェクション分析（FIA法）について2時間以上，予習すること その他の機器分析１：質量分析法，フローインジェクション分析（FIA法） 質量分析法，フローインジェクション分析（FIA法）について2時間以上，復習すること |
| 第14回 | Hyhoneted methodについて2時間以上，予習すること その他の機器分析２：Hyhoneted method Hyhoneted methodについて2時間，復習すること |
| 第15回 | 総合的にまとめたものを2時間以上，予習すること まとめ 総合的にまとめたものを2時間以上，復習すること |
その他
| 教科書 |
本水昌二，朝本紘充，石坂昌司，井原敏博，内山一美，齊藤和憲，佐藤健二，塚原 聡，中釜達朗，西澤精一，沼田 靖，南澤宏明，森田孝節，吉川賢治 『基礎教育シリーズ 分析化学〈機器分析編〉第２版』 東京教学社 2021年 第2版版
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| 参考書 |
日本分析化学会九州支部編 『機器分析入門』 南江堂 １９９８年年 第３版版
奥谷忠雄・本水昌二 『教育基礎・分析化学演習』 東京教学社 ２００４年年 第３版版
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| 成績評価の方法 及び基準 |
講義に2/3以上出席した者を対象とする。 平常試験（80%)さらに授業中に担当者が質問する等(20%)，総合的に評価します。 また理解度確認試験後，解説を行います。 |
| 質問への対応 | 各回授業での質問等はオフィスアワー等で受け付けます。 |
| 研究室又は 連絡先 |
２号館２階２２３室 03-3259-0820，E-mail: morｉta.yukitoki＠ｎihon-u.ac.jp |
| オフィスアワー |
月曜 駿河台 11:00 ～ 16:30
火曜 駿河台 11:00 ～ 16:30
水曜 駿河台 11:00 ～ 16:30
木曜 駿河台 14:00 ～ 16:30
金曜 駿河台 13:00 ～ 16:30
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| 学生への メッセージ |
機器分析に関する書籍は多数出版されているので学習が不十分な場合はここで示したテキス ト以外で自分にあったテキストを見いだして学習してもらいたい。 |